AVT Helios mit neuem Varnish Inspection Modul für präzise Lack- und Druckbildkontrolle in Echtzeit (Quelle: AVT)
Das Unternehmen AVT stellt auf der diesjährigen Labelexpo Europe am Stand 5D37 neue Technologien für die Druckinspektion vor. Im Mittelpunkt stehen Weiterentwicklungen in den Bereichen Automatisierung, Prozessüberwachung und Qualitätskontrolle. Es ist zugleich der erste Messeauftritt von AVT seit der Unternehmensausgliederung.
Neuer Varnish-Inspektionsmodus
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Mit dem Varnish Inspection Modul für das AVT-System Helios erweitert AVT seine Inspektionsfunktionen. Erstmals können Lackierungsfehler wie Fehlregister, Auslassungen oder Druckabweichungen gleichzeitig mit der Druckkontrolle erkannt werden.
KI-gestützte Automatisierung
Ein weiterer Schwerpunkt ist AutoEdit AI, ein neues Modul zur automatisierten Daten- und Rollenbearbeitung. Es reduziert manuelle Arbeitsschritte und nutzt KI-Methoden sowie unternehmensspezifische Qualitätsparameter, um Entscheidungen effizienter und konsistenter zu gestalten.
Fortschritte bei Farbmessung und -kontrolle
Mit SpectraLab XF präsentiert AVT eine In-line-Spektrallösung, die Farbkonsistenz in Echtzeit überwacht. Das System unterstützt Produktionssicherheit durch automatisierte Farbkontrolle, Datenanbindung und detailliertes Reporting bei allen Druckgeschwindigkeiten.
Datenintegration und Monitoring
Zusätzlich zeigt AVT erweiterte Funktionen zur Datenaufbereitung und Dashboard-Visualisierung, die Verantwortlichen eine systematische Analyse und Prozessoptimierung ermöglichen.
Die verschiedenen Module sind Teil eines integrierten Ökosystems, das Druckqualität, Prozesskontrolle und Workflow-Automatisierung miteinander verbindet. AVT verfolgt damit das Ziel, Produktionsabläufe zu vereinfachen und die Effizienz zu steigern.
