AVT Helios-Modul für Labels & Labeling Award nominiert
von Redaktion Etiketten-Labels,
Das Helios Varnish Inspection Module soll von AVT soll die Prüfung transparenter Lacke ohne Additive parallel zur Druckinspektion ermöglichen (Quelle: AVT)
AVT ist mit dem Helios Varnish Inspection Module in die Shortlist der Labels & Labeling Innovation Awards aufgenommen worden. Das Modul soll die Inspektion von Klarlacken und Beschichtungen parallel zur Druckinspektion ermöglichen, ohne dass Verarbeiter ihre Lackformulierungen anpassen müssen. Der Preisträger wird am 15. September 2026 zum Auftakt der LOUPE Americas bekanntgegeben.
Klarlack- und Beschichtungsfehler gehören zu den schwer zu kontrollierenden Problemen in der Etiketten- und Verpackungsproduktion. Konventionelle Inspektionssysteme erkennen transparente Beschichtungen nicht. Als Behelf halten Verarbeiter die Druckmaschine zur manuellen Prüfung an oder setzen dem Lack UV-Additive beziehungsweise optische Aufheller zu, um Fehler unter UV-Licht sichtbar zu machen. Dieser Ansatz verändert die Formulierung, erhöht Kosten und Komplexität und stellt Verarbeiter dennoch das Risiko von Passerfehlern, Fehldrucken und Lackaussetzern.
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„Jeder Verarbeiter, mit dem wir sprechen, kennt das Lackproblem, und jahrelang musste jeder damit leben. Wir wollten es richtig lösen, ohne dass Kunden ihren Lack oder ihren Prozess ändern müssen. Die Marktresonanz war bemerkenswert – eines von drei Helios-Systemen wird inzwischen mit dem Modul ausgeliefert. Die Aufnahme in die Shortlist des Labels & Labeling Innovation Award ist eine Anerkennung der Wirkung, die diese Innovation in der Etiketten- und Verpackungsproduktion bereits entfaltet“, sagt Guy Yogev, VP Product & Marketing bei AVT.
Retrofit für bestehende Anlagen
Das patentierte Helios Varnish Inspection Module inspiziert Klarlack- und Beschichtungsschichten direkt und identifiziert nach Herstellerangaben Fehler, die andere Systeme nicht erkennen. Es soll auf matten, glänzenden und taktilen Beschichtungen einsetzbar sein und Lack, Druck, Barcode, variable Daten sowie Farbmessung in einer Plattform bei voller Produktionsgeschwindigkeit prüfen.
Das Modul ist als Nachrüstlösung für Helios-Systeme ausgelegt, die ab 2017 installiert wurden. Verarbeiter können die Funktion damit ohne Hardwarewechsel ergänzen. Nach Angaben von AVT ist dies ein wesentlicher Grund für die schnelle Marktdurchdringung seit Einführung des Moduls.
Nutzen für Verarbeiter
Für Verarbeiter soll das Modul unmittelbaren operativen Nutzen bringen. Lackdefekte, Passerfehler und Aussetzer würden vor der Auslieferung erkannt, wodurch sich Nachdrucke, Ausschuss, Stillstände und Qualitätsreklamationen verringern ließen. Der Hersteller verweist in diesem Zusammenhang auf dokumentierte Produktivitätsgewinne bei Kunden von rund 30 Prozent.
Darüber hinaus soll das Modul Formulierungsvereinfachungen ermöglichen. Da sich UV-Additive und optische Aufheller im Lack erübrigten, könnten Beschichtungsformulierungen vereinfacht und die Materialkomplexität reduziert werden. Für Endmärkte wie Lebensmittel und Getränke, Kosmetik oder Pharmazie, in denen die Beschichtungsintegrität direkt mit Produktschutz und Markenqualität verknüpft ist, soll dies zusätzliche Sicherheit für die Fertigwarenkontrolle bieten.
„Innovation in dieser Branche muss ihren Platz im Drucksaal verdienen“, ergänzt Yogev. „Sie muss bei Produktionsgeschwindigkeit funktionieren, sich in das integrieren, was Kunden bereits einsetzen, und ein Problem lösen, das sie tatsächlich spüren. Das Helios Varnish Inspection Module leistet dies aus unserer Sicht in allen drei Punkten.“
Vorstellung auf der LOUPE Americas
Der Gewinner der Labels & Labeling Innovation Awards wird am 15. September 2026 zum Auftakt der LOUPE Americas bekanntgegeben. Besucher können das Helios Varnish Inspection Module am Stand 3523 in Betrieb sehen.
