Das innovative Varnish Inspection-Modul für das AVT Helios 100%-Inspektionssystem ermöglicht es Etikettenweiterverarbeitern, eine maximale Ausgabe bei gleichzeitiger Reduzierung von Ausschuss im Druckproduktionsprozess zu erzielen (Quelle: Esko)
Esko, Anbieter in der Druckinspektionstechnologie, präsentiert auf der drupa 2024 (Halle 8b, Stand A12) das neue AVT Varnish Inspection-Modul. Das innovative Modul optimiert die Lackinspektion von gedruckten Etiketten, indem es Lackbeschichtungsfehler während des Drucklaufs sofort erkennen kann. Die Integration in das AVT Helios 100%-Inspektionssystem ermöglicht eine verbesserte Produktivität durch genaue Inspektionsergebnisse ohne Produktionsunterbrechung.
Jan De Roeck, Director of Marketing, Industry Relations & Strategy bei Esko, betont die Bedeutung dieser Entwicklung: “In einer Zeit hoher Rohstoffpreise und zunehmendem Druck auf Nachhaltigkeit bietet unser Modul Etikettenweiterverarbeitern die Möglichkeit, Ausschuss zu minimieren und Durchsatz zu maximieren, ohne die Druckgeschwindigkeit zu beeinträchtigen.”
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Das Modul, das ohne UV-Zusätze auskommt, ist mit allen gängigen Systemen kompatibel und adressiert speziell die Herausforderungen konventioneller Inspektionssysteme, die oft durch manuelle Prozesse und die Notwendigkeit von UV-Lichtquellen ineffizient sind. Dank patentierter Technologien und Algorithmen erkennt das System selbst geringfügige Lackmängel und fehlerhafte Registrierungen sofort.
Die Technologie ist zudem mit verschiedenen Lacktypen kompatibel und ermöglicht eine ununterbrochene Inspektion bei höchsten Produktionsgeschwindigkeiten. “Durch diese Innovation können unsere Kunden Qualität erhöhen, Produktionskosten senken und die Markteinführung ihrer Produkte beschleunigen”, fügt De Roeck hinzu.
Das AVT Varnish Inspection-Modul ist für alle AVT Helios Systemmodelle verfügbar und wird die Druckqualität und Effizienz der Etikettenproduktion erheblich verbessern.
